Étude de la couche superficielle du silicium avec dépôt d'indium

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Étude de la couche superficielle du silicium avec dépôt d'indium: Microscopie à effet tunnel et spectroscopie des structures sur les surfaces Si(111) et Si(557) avec clusters


Spécifications du produit

Marque Editions Notre Savoir
EAN
  • 9786202210775

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